|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs |
| Auteur: |
Danković, D. Manić, I. Prijić, A. Davidović, V. Prijić, Z. Golubović, S. Djorić-Veljković, S. Paskaleva, A. Spassov, D. Stojadinović, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 82 (2018) nr. C pagina's 28-36 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |