|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Synergistic effects of NPN transistors caused by combined proton irradiations with different energies |
| Auteur: |
Li, Xingji Yang, Jianqun Liu, Chaoming Bai, Gang Luo, Wenbo Li, Pengwei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 82 (2018) nr. C pagina's 130-135 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |