|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip |
| Auteur: |
Du, Xuecheng Liu, Shuhuan Luo, Dongyang Zhang, Yao Du, Xiaozhi He, Chaohui Ren, Xiaotang Yang, Weitao Yuan, Yuan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 71 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 20 gevonden artikelen
| << vorige |