|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Morphological and electrical comparison of Ti and Ta based ohmic contacts for AlGaN/GaN-on-SiC HFETs |
| Auteur: |
Pooth, A. Bergsten, J. Rorsman, N. Hirshy, H. Perks, R. Tasker, P. Martin, T. Webster, R.F. Cherns, D. Uren, M.J. Kuball, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 68 (2017) nr. C pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |