|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Transient dual interface measurement of junction-to-case thermal resistance in AlGaN/GaN HEMT utilizing an improved infrared microscope |
| Auteur: |
Zhai, Yuwei Liang, Faguo Guo, Chunsheng Liu, Yan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 66 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 22 gevonden artikelen
| << vorige |