|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
A process-variation-resilient methodology of circuit design by using asymmetrical forward body bias in 28nm FDSOI |
| Auteur: |
Wang, Y. Cai, H. Naviner, L.A.B. Zhao, X.X. Zhang, Y. Slimani, M. Klein, J.O. Zhao, W.S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |