|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of quantum conductance, read disturb and switching statistics in HfO2 RRAM using conductive AFM |
| Auteur: |
Ranjan, A. Raghavan, N. Molina, J. O'Shea, S.J. Shubhakar, K. Pey, K.L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 64 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |