|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 40 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability/Uniformity improvement induced by an ultrathin TiO2 insertion in Ti/HfO2/Pt resistive switching memories |
| Auteur: |
Jiang, Ran Han, Zuyin Du, Xianghao |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 63 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 40 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |