|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of annealing temperature on the electronic parameters and carrier transport mechanism of Pt/n-type Ge Schottky diode |
| Auteur: |
Guo, Erjuan Zeng, Zhigang Zhang, Yan Long, Xiao Zhou, Haijun Wang, Xiaohong |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 62 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |