|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Trapping and reliability issues in GaN-based MIS HEMTs with partially recessed gate |
| Auteur: |
Meneghesso, Gaudenzio Meneghini, Matteo Bisi, Davide Rossetto, Isabella Wu, Tian-Li Van Hove, Marleen Marcon, Denis Stoffels, Steve Decoutere, Stefaan Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 58 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 29 gevonden artikelen
| << vorige |