|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of Diode-Integrated SiC Power MOSFET(DioMOS) |
| Auteur: |
Kusumoto, Osamu Ohoka, Atsushi Horikawa, Nobuyuki Tanaka, Kohtaro Niwayama, Masahiko Uchida, Masao Kanzawa, Yoshihiko Sawada, Kazuyuki Ueda, Tetsuzo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 58 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |