|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 134 van 141 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermally-activated degradation of InGaN-based laser diodes: Effect on threshold current and forward voltage |
| Auteur: |
De Santi, C. Meneghini, M. Marioli, M. Buffolo, M. Trivellin, N. Weig, T. Holc, K. Köhler, K. Wagner, J. Schwarz, U.T. Meneghesso, G. Zanoni, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 134 van 141 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |