|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 101 van 141 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of Cu nanoparticle joint for high temperature power electronics |
| Auteur: |
Ishizaki, T. Kuno, A. Tane, A. Yanase, M. Osawa, F. Satoh, T. Yamada, Y. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 101 van 141 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |