|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
BIST architecture for oscillation test of analog ICs and investigation of test hardware influence |
| Auteur: |
Arbet, D. Stopjaková, V. Brenkuš, J. Gyepes, G. Kováč, M. Majer, L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 5 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |