Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Using active thermography for defects inspection of flip chip
 
 
Titel: Using active thermography for defects inspection of flip chip
Auteur: Xu, Zhensong
Shi, Tielin
Lu, Xiangning
Liao, Guanglan
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 54 (2014) nr. 4 pagina's 8 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland