Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Numerical analysis of thermo-mechanical and mobility effects for 28nm node and beyond: Comparison and design consequences over bumping technologies
 
 
Titel: Numerical analysis of thermo-mechanical and mobility effects for 28nm node and beyond: Comparison and design consequences over bumping technologies
Auteur: Fiori, Vincent
Ewuame, Komi-Atchou
Gallois-Garreignot, Sébastien
Jaouen, Hervé
Tavernier, Clément
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 54 (2014) nr. 4 pagina's 9 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland