Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 28 van 43 gevonden artikelen
 
 
  Investigation of high performance Edge Lifted Capacitors reliability for GaAs and GaN MMIC technology
 
 
Titel: Investigation of high performance Edge Lifted Capacitors reliability for GaAs and GaN MMIC technology
Auteur: Weng, Ming-Hung
Chen, Chao-Hung
Lin, Che-Kai
Huang, Shih-Hui
Du, Jhih-Han
Peng, Sheng-Wen
Wohlmuth, Walter
Chou, Frank Yung-Shi
Hua, Chang-Hwang
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 54 (2014) nr. 12 pagina's 7 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 28 van 43 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland