|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Activation energy of drain-current degradation in GaN HEMTs under high-power DC stress |
| Auteur: |
Wu, Yufei Chen, Chia-Yu del Alamo, Jesús A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 43 gevonden artikelen
| volgende >> |