|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
A study on IGBT junction temperature (Tj) online estimation using gate-emitter voltage (Vge) at turn-off |
| Auteur: |
Sundaramoorthy, V.K. Bianda, E. Bloch, R. Angelosante, D. Nistor, I. Riedel, G.J. Zurfluh, F. Knapp, G. Heinemann, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 11 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |