|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 117 gevonden artikelen
| Titel: |
An analytical approach for physical modeling of hot-carrier induced degradation |
| Auteur: |
Tyaginov, S. Starkov, I. Enichlmair, H. Jungemann, Ch. Park, J.M. Seebacher, E. Orio, R. Ceric, H. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 117 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |