|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 117 gevonden artikelen
| Titel: |
HCI and NBTI induced degradation in gate-all-around silicon nanowire transistors |
| Auteur: |
Huang, Ru Wang, Runsheng Liu, Changze Zhang, Liangliang Zhuge, Jing Tao, Yu Zou, Jibin Liu, Yuchao Wang, Yangyuan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 117 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |