|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 113 van 117 gevonden artikelen
| Titel: |
Time Resolved Imaging: From logical states to events, a new and efficient pattern matching method for VLSI analysis |
| Auteur: |
Bascoul, G. Perdu, P. Benigni, A. Dudit, S. Celi, G. Lewis, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 113 van 117 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |