|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 106 van 117 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the impact of hot carrier injection to immunity of MOSFET to electromagnetic interferences |
| Auteur: |
Li, B. Berbel, N. Boyer, A. BenDhia, S. Fernández-García, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 106 van 117 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |