|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on the effect of annealing process parameters on AuGeNi ohmic contact to n-GaAs using microstructural characteristics |
| Auteur: |
Tahamtan, S. Goodarzi, A. Abbasi, S.P. Hodaei, A. Zabihi, M.S. Sabbaghzadeh, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 8 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |