|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
NBTI reliability on high-k metal-gate SiGe transistor and circuit performances |
| Auteur: |
Yuan, Jiann-Shiun Yeh, Wen-Kuan Chen, Shuyu Hsu, Chia-Wei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |