|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the gate current as a suitable indicator for FET degradation under nonlinear dynamic regime |
| Auteur: |
Raffo, Antonio Falco, Sergio Di Sozzi, Giovanna Menozzi, Roberto Schreurs, Dominique M. M.-P. Vannini, Giorgio |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |