Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 47 van 48 gevonden artikelen
 
 
  Using EWMA control schemes for monitoring wafer quality in negative binomial process
 
 
Titel: Using EWMA control schemes for monitoring wafer quality in negative binomial process
Auteur: Yu, Fong-Jung
Yang, Yung-Yu
Wang, Ming-Jaan
Wu, Zhang
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 6 p.
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 47 van 48 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland