Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 15 van 48 gevonden artikelen
 
 
  Critical factors influencing the voltage robustness of AlGaN/GaN HEMTs
 
 
Titel: Critical factors influencing the voltage robustness of AlGaN/GaN HEMTs
Auteur: Cäsar, M.
Dammann, M.
Polyakov, V.
Waltereit, P.
Quay, R.
Mikulla, M.
Ambacher, O.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 51 (2011) nr. 2 pagina's 5 p.
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 15 van 48 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland