|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluating nanotribological behavior of annealing Si0.8Ge0.2/Si films |
| Auteur: |
Wu, Ming-Jhang Wen, Hua-Chiang Wu, Shyh-Chi Yang, Ping-Feng Lai, Yi-Shao Hsu, Wen-Kuang Wu, Wen-Fa Chou, Chang-Pin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |