|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of high-frequency characteristics induced by intrinsic parameter fluctuations in nano-MOSFET device and circuit |
| Auteur: |
Han, Ming-Hung Li, Yiming Hwang, Chih-Hong |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |