|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Thin film joining for high-temperature performance of power semi-conductor devices |
| Auteur: |
Takahashi, Toshihide Komatsu, Shuichi Nishikawa, Hiroshi Takemoto, Tadashi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| << vorige |