|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of electrical stress-induced charge carrier generation/trapping and related degradation of SiO2 and HfO2/SiO2 gate dielectric stacks |
| Auteur: |
Samanta, Piyas Zhu, Chunxiang Chan, Mansun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 12 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |