|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Hydrogen passivation effects under negative bias temperature instability stress in metal/silicon-oxide/silicon-nitride/silicon-oxide/silicon capacitors for flash memories |
| Auteur: |
Kim, Hee-Dong An, Ho-Myoung Seo, Yujeong Zhang, Yongjie Park, Jong Sun Kim, Tae Geun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |