|
Effects of the electrical stress on the conduction characteristics of metal gate/MgO/InP stacks |
|
|
|
Titel: |
Effects of the electrical stress on the conduction characteristics of metal gate/MgO/InP stacks |
Auteur: |
Miranda, E. Martin-Martinez, J. O’Connor, E. Hughes, G. Casey, P. Cherkaoui, K. Monaghan, S. Long, R. O’Connell, D. Hurley, P.K. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 49 (2009) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2009 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|