|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of traps effect on AlGaN/GaN HEMT by luminescence techniques |
| Auteur: |
Bouya, M. Malbert, N. Labat, N. Carisetti, D. Perdu, P. Clément, J.C. Lambert, B. Bonnet, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 8-9 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |