|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 97 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of triggering behaviour of high voltage CMOS LDMOS clamps and SCRs during ESD induced latch-up |
| Auteur: |
Heer, M. Dubec, V. Bychikhin, S. Pogany, D. Gornik, E. Frank, M. Konrad, A. Schulz, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 97 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |