|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
EBSD measurements of elastic strain fields in a GaN/sapphire structure |
| Auteur: |
Luo, J.F. Ji, Y. Zhong, T.X. Zhang, Y.Q. Wang, J.Z. Liu, J.P. Niu, N.H. Han, J. Guo, X. Shen, G.D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |