Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
 
 
  High-temperature reliability of Flip Chip assemblies
 
 
Titel: High-temperature reliability of Flip Chip assemblies
Auteur: Braun, T.
Becker, K.-F.
Koch, M.
Bader, V.
Aschenbrenner, R.
Reichl, H.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 46 (2006) nr. 1 pagina's 11 p.
Jaar: 2006
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland