|
Investigation of Tunnel-Regenerated Multi-Active-Region Light-Emitting Diodes (TRMAR LED) by Scanning Thermal Microscopy (STHM) |
|
|
|
Titel: |
Investigation of Tunnel-Regenerated Multi-Active-Region Light-Emitting Diodes (TRMAR LED) by Scanning Thermal Microscopy (STHM) |
Auteur: |
Lee, T.H. Guo, X. Shen, G.D. Ji, Y. Wang, G.H. Du, J.Y. Wang, X.Z. Gao, G. Altes, A. Balk, L.J. Phang, J.C.H. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 42 (2002) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2002 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|