Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Electrical probing of deep sub-micron integrated circuits using scanning probes
 
 
Titel: Electrical probing of deep sub-micron integrated circuits using scanning probes
Auteur: Krieg, K
Thomson, D.J
Bridges, G.E
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 8 pagina's 7 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland