Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 37 van 37 gevonden artikelen
 
 
  Wear-out, breakdown occurrence and failure detection in 18–25 Å ultrathin oxides
 
 
Titel: Wear-out, breakdown occurrence and failure detection in 18–25 Å ultrathin oxides
Auteur: Monsieur, F.
Vincent, E.
Pananakakis, G.
Ghibaudo, G.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 5 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 37 van 37 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland