Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 35 van 37 gevonden artikelen
 
 
  Ultra-thick gate oxides: charge generation and its impact on reliability
 
 
Titel: Ultra-thick gate oxides: charge generation and its impact on reliability
Auteur: Schwalke, Udo
Pƶlzl, Martin
Sekinger, Thomas
Kerber, Martin
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 4 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 35 van 37 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland