|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
On the influence of the variation of measurement conditions on the FNT characteristics of stressed thin silicon oxides |
| Auteur: |
Zahlmann-Nowitzki, J.-W Nebrich, L Seegebrecht, P |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |