Digitale Bibliotheek |
|
||||||||||||||||||||||||||||
Sluiten | Bladeren door artikelen uit een tijdschrift | ||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Tijdschrift beschrijving | |||||||||||||||||||||||||||||
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift | |||||||||||||||||||||||||||||
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang | |||||||||||||||||||||||||||||
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering | |||||||||||||||||||||||||||||
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Plasma process-induced damage on thick (6.8 nm) and thin (3.5 nm) gate oxide: parametric shifts, hot-carrier response, and dielectric integrity degradation |
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
|
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland |