Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Breakdown and latent damage of ultra-thin gate oxides under ESD stress conditions
 
 
Titel: Breakdown and latent damage of ultra-thin gate oxides under ESD stress conditions
Auteur: Wu, J
Juliano, P
Rosenbaum, E
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 11 pagina's 9 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland