|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Current status of failure analysis for ULSIs© 1997 IEEE. Reprinted with permission, from Proc. 1997 21st International Conference on Microelectronics, Nis, Yugoslavia, 14–17 September 1997, Vol. 2, pp. 591–598. |
| Auteur: |
Nakajima, S Ueki, T Shionoya, Y Mafune, K Kuji, N Nakamura, S Komine, Y Takeda, T |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 9 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
IEEE |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |