|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
HOT-CARRIER RELIABILITY IN n-MOSFETs USED AS PASS-TRANSISTORS |
| Auteur: |
Goguenheim, D Bravaix, A Vuillaume, D Varrot, M Revil, N Mortini, P |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elseiver Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |