|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Discussion on Physical Models for Burst Noise in a Forward Biased P–N Junction and Their Experimental Validation |
| Auteur: |
Dai, Yisong Li, Yaqin Xu, Jiansheng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |