|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
The effects of SiO2 barrier between active layer and substrate on the performance and reliability of polycrystalline silicon thin film transistors |
| Auteur: |
Wang, Y.Z Awadelkarim, O.O |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 12 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |