Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
 
 
  ESD laboratory simulations and signature analysis of a CMOS programmable logic product 1 1 The following is a condensed and revised version of the original paper presented at ISTFA-94: Proceedings of the 20th International Symposium for testing and Failure Analysis, p117 (1994), Henry et al., see ref[26].
 
 
Titel: ESD laboratory simulations and signature analysis of a CMOS programmable logic product 1 1 The following is a condensed and revised version of the original paper presented at ISTFA-94: Proceedings of the 20th International Symposium for testing and Failure Analysis, p117 (1994), Henry et al., see ref[26].
Auteur: Henry, L.G.
Raymond, T.
Mahanpour, M.
Morgan, I.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 38 (1998) nr. 11 pagina's 7 p.
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland